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Beschreibung
vor 2 Monaten
Dr. Wolfgang Geier (ZEISS SMT) über EUV‑Technologie als Schlüssel
für moderne Chips, drei Jahrzehnte High‑Tech‑Innovation und die
Kunst, komplexe Technologie global zu skalieren. Ein Gespräch über
Führung, datengetriebene Entwicklung, Lean‑Effizienz,
Nachhaltigkeit – und warum Neugier und Mut zentrale Erfolgsfaktoren
in der High‑Performance‑Optik sind.
für moderne Chips, drei Jahrzehnte High‑Tech‑Innovation und die
Kunst, komplexe Technologie global zu skalieren. Ein Gespräch über
Führung, datengetriebene Entwicklung, Lean‑Effizienz,
Nachhaltigkeit – und warum Neugier und Mut zentrale Erfolgsfaktoren
in der High‑Performance‑Optik sind.
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